采样锥两边压力分别为10⁵Pa（ICP界面）和10²Pa（提取界面），导致形成一个巨大的压力差，使正电荷离子通过采样锥孔后形成一个超声喷射流，再以超生速度快速膨胀，几微秒后到达截取锥，然后通过截取锥进入更高真空的质谱中。由于位置的原因，采样锥比截取锥更容易发生堵塞和腐蚀。在电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）法测定金元素的过程中，硫脲溶液浓度过大是导致采样锥堵塞的主要原因。按照实验方法，当硫脲溶液浓度分别为3、5、10g/L时，测定国家一级标准物质GAu-11b和原生晕样品B2000049的信号强度。实验结果表明：采用不同浓度的硫脲溶液解脱后进行样品测试，ICP-MS信号强度几乎相同。故采用3g/L硫脲溶液浓度为金解脱时最佳硫脲浓度，以防止盐浓度过高造成采样锥的堵塞。