1.1  光线偏折角的测量

当来自背景的光线穿过测量流场时，因为折射率变化而发生偏折，虚线表示没有测量流场时背景斑点在CCD上的投影，实线表示光线偏折以后斑点的投影情况,表示在加入测量流场以后，背景同一斑点发生的像素偏移量。选取适当大小的迭代窗口尺寸，迭代窗口尺寸的选择跟斑点的密度相关，将有火焰和无火焰的2幅图像进行相关性分析，然后使用PIV粒子图像分析技术求取2幅图像中所有斑点发生的偏移,就可以求取所有来自背景的光线经过测量范围发生的偏移情况。